최신 TLC 및 QLC 플래시 기술의 속도와 복잡성으로 인해 하드웨어 (신호 무결성, 전원 관리) 및 펌웨어 (플래시 알고리즘, 오류 수정) 관점에서 대용량 고성능 SSD 장치를 설계 할 때 새로운 과제가 발생합니다. 플래시 내구성, 오류, 결함, 작동 타이밍 및 전력을 특성화하기 위해 방대한 양의 정확한 데이터를 수집하고 분석해야합니다.
BarnieMAT 데이터 분석 기능과 함께 제공되는 NanoCycler HS는 NAND 메모리 탐색을 위한 동급 최고의 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다.
NanoCycler HS :
C ++ 및 Python API에 완전한 ONFI 명령 세트 및 사용자 정의 가능 신호 시퀀스를 제공하여 NAND 장치의 내구성 및 기능 테스트를 지원합니다.
최대 1.6 GT/sec의 속도에서 피시험체가 애플리케이션의 사용 조건을 충실히 재현할 수 있도록 동작과 스트레스를 인가할 수 있습니다.
정확한 전압 마진 분석을 위해 10mV 정밀도의 고성능 프로그래밍 가능 전원 공급 장치를 제공합니다.
1mA 분해능으로 50nsec 샘플링 속도에서 각 공급 장치의 전력 소비를 캡처합니다. 플래시 작동 전력 소비 데이터는 실시간으로 처리되어 고해상도 전류 소비의 추적 및 장시간의 주요 메트릭 (피크, 평균, 분배)을 제공합니다.
1 nsec I / O 에지 배치 및 20 nsec 플래시 응답 시간 획득으로 플래시 인터페이스 타이밍을 특성화합니다.
1 ~ 48 개의 테스트 사이트에서 확장 가능한 아키텍처로 비용과 장기 투자를 최적화합니다.
테스트중인 각 장치가 서로 다른 테스트 프로그램으로 개별적인 온도, 타이밍, 전압 레벨에서 실행될 수있는 테스트 사이트의 완전한 독립성을 허용합니다.
데이터 분석 환경을 통합하여 사후 처리하고 결과를 제시하여 제품 시간을 단축합니다.
최저 비용과 노력으로 최고 품질의 특성화 결과 – NanoCycler HS는 고성능의 안정적인 대용량 저장 장치를 설계하기위해 미래의 안전한 투자를 제공합니다.
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